Surftest （表面粗糙度測量儀）SJ-500P/SV-2100M4（PC型）

178系列- 帶有PC（個人電腦）

日本三豐品牌  MITUTOYO  178-531-01   表面粗糙度測量儀

高精度技術交流、高性能表面粗糙度測試儀充分利用上等分析軟件優(yōu)勢先進的解決方案。SJ-500P是獨立單機，而SV-2100M4則是一種臺式設(shè)備創造更多，含手動精度立柱宣講活動。

特點：

1、控制部件中的內(nèi)置操縱桿使得定位快捷簡便工藝技術。測量小孔內(nèi)側(cè)時可使用手動旋鈕對細(xì)小測針的位置進(jìn)行微調(diào)效率。

2、表面粗糙度測量條件的設(shè)置簡單易行產能提升。利用簡單的輸入功能可按ISO/JIS粗糙度標(biāo)準(zhǔn)計算繪圖指令符號適應性。復(fù)雜的測量條件設(shè)置很容易輸入，只要由表面粗糙度菜單中選擇繪圖指令符號即可通過活化。

技術(shù)參數(shù)：SJ-500P

X軸（驅(qū)動部）

測量范圍：50mm

分辨率：0.05μm

長度基準(zhǔn)：線性編碼器

驅(qū)動速度：0-20mm/s

測量速度：0.02-5mm/s

移動方向：向后

直線度：0.2μm/50mm

定位：±1.5°（傾角落地生根，有DAT功能），30mm（向上/向下）

檢測器：

范圍/分辨率：800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm

檢測方法：無軌/有軌測量

測力：參見性能參數(shù)表

測針針尖：參見性能參數(shù)表

導(dǎo)頭曲率半徑：40mm

類型：差動電感式

驅(qū)動裝置的控制：PC操作

技術(shù)參數(shù)：SV-2100M4（PC類型）

X軸（驅(qū)動部）

測量范圍：100mm

分辨率：0.05μm

長度基準(zhǔn)：線性編碼器

驅(qū)動速度：0-40mm/s

測量速度：0.02-5mm/s

移動方向：向后

直線度：0.15μm/100mm

Z2軸（立柱）

類型：手動操作

垂直移動：350mm

檢測器：

范圍/分辨率：800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm

檢測方法：無軌/有軌測量

測力：參見性能參數(shù)表

測針針尖：參見性能參數(shù)表

類型：差動電感式

驅(qū)動裝置的控制：PC操作

評估能力：SURFPAK-SV

評估輪廓：P（原始輪廓）健康發展，R（表面粗糙度輪廓）有效保障，WC,WCA,WE,WEA,DIN4776輪廓，包絡(luò)殘余線長效機製，粗糙度motif,波形motif

評價參數(shù)：

Ra,Rq,Rz,Ry,Rz(JIS),Ry(DIN),Rc,Rp,Rpmax,Rv,Rvmax,Rvi,Rt,Rti,R3zi,R3y,Sm,S,Pc(Ppi),plateau ratio,mrd,Rpk,Rvk,δc,Rk,Mr1,Mr2,Lo,Ppi,R,AR,Rx,A1,A2,Vo,HSC,mr,SK,Ku,△a, △q,λa,λq,Lo,Lr,

粗糙度motif參數(shù)：RX,R,AR,SR,SAR,NR,NCRX,CPM

波形motif參數(shù)：W,AW SW,Wx,Wte,SAW,NW

分析圖表：ADC,BAC1,BAC2,功率譜圖,自相關(guān)圖相結合，Walsh 功率譜圖，Walsh 自相關(guān)圖製高點項目，傾斜分布圖為產業發展，局部峰值分布圖，參數(shù)分布圖

濾波類型：2CR-75%,2CR-50%,2CR-75%(相位校正)有所增加，2CR-50%(相位校正)各項要求，高斯-50%

截止波長*

fh：0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm

λc：0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm

fl： 0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm

取樣長度*：0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm

數(shù)據(jù)補償功能：拋物線補償、雙曲線補償越來越重要的位置、橢圓補償新技術、R平面（曲面）補償、錐面補償順滑地配合、傾斜補償深入、二次曲線補償效高，多項式補償、多項式自動補償

*可在0.025至大移動長度間指定任意長度

性能參數(shù)：

*為區(qū)分交流電源電纜基礎，在貨號后加上以下后綴：A適于UL/CSA, D適于CEE,E適于BS性能，DC適于CCC， 無后綴適于JIS/100V